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  1. 理学部
  2. 学外刊行物(理学部)
  3. 雑誌

Double diffraction imaging of x-ray induced structural dynamics in single free nanoparticles

http://hdl.handle.net/10935/0002006066
http://hdl.handle.net/10935/0002006066
3f8a5d6d-9617-404a-968a-09681fbeb559
名前 / ファイル ライセンス アクション
/ https://doi.org/10.1088/1367-2630/ad5d84
アイテムタイプ default_学術雑誌論文 / Journal Article(1)
タイトル
タイトル Double diffraction imaging of x-ray induced structural dynamics in single free nanoparticles
言語 en
言語
言語 eng
キーワード
言語 en
主題Scheme Other
主題 Atomic and Molecular Clusters (physics.atm-clus)
キーワード
言語 en
主題Scheme Other
主題 Instrumentation and Detectors (physics.ins-det)
キーワード
言語 en
主題Scheme Other
主題 Optics (physics.optics)
資源タイプ
資源タイプ識別子 http://purl.org/coar/resource_type/c_6501
資源タイプ journal article
アクセス権
アクセス権 open access
アクセス権URI http://purl.org/coar/access_right/c_abf2
著者 Sauppe M.

× Sauppe M.

en Sauppe M.

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Bischoff T.

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Bomme C.

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Bostedt C.

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Colombo A.

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Erk B.

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Feigl T.

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Flückiger L.

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Gorkhover T.

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Heilrath A.

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Kolatzki K.

× Kolatzki K.

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熊谷 嘉晃

× 熊谷 嘉晃

en Kumagai Yoshiaki

ja 熊谷 嘉晃

ja-Kana くまがい よしあき

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Langbehn B.

× Langbehn B.

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Müller J. P.

× Müller J. P.

en Müller J. P.

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Passow C.

× Passow C.

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Ramm D.

× Ramm D.

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Rolles D.

× Rolles D.

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Rompotis D.

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Schäfer-Zimmermann J.

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Senfftleben B.

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Treusch R.

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Ulmer A.

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Zimbalski J.

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Möller T.

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Rupp D.

× Rupp D.

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抄録
内容記述タイプ Abstract
内容記述 Because of their high photon flux, x-ray free-electron lasers (FEL) allow to resolve the structure of individual nanoparticles via coherent diffractive imaging (CDI) within a single x-ray pulse. Since the inevitable rapid destruction of the sample limits the achievable resolution, a thorough understanding of the spatiotemporal evolution of matter on the nanoscale following the irradiation is crucial. We present a technique to track x-ray induced structural changes in time and space by recording two consecutive diffraction patterns of the same single, free-flying nanoparticle, acquired separately on two large-area detectors opposite to each other, thus examining both the initial and evolved particle structure. We demonstrate the method at the extreme ultraviolet (XUV) and soft x-ray Free-electron LASer in Hamburg (FLASH), investigating xenon clusters as model systems. By splitting a single XUV pulse, two diffraction patterns from the same particle can be obtained. For focus intensities of about 2×10^12 W cm^−2 we observe still largely intact clusters even at the longest delays of up to 650 picoseconds of the second pulse, indicating that in the highly absorbing systems the damage remains confined to one side of the cluster. Instead, in case of five times higher flux, the diffraction patterns show clear signatures of disintegration, namely increased diameters and density fluctuations in the fragmenting clusters. Future improvements to the accessible range of dynamics and time resolution of the approach are discussed.
言語 en
書誌情報 en : New Journal of Physics

巻 26, 号 7, p. 73019, 発行日 2024-07-11
出版者
出版者 IOP Science
言語 en
ISSN
収録物識別子タイプ EISSN
収録物識別子 1367-2630
DOI
識別子タイプ DOI
関連識別子 10.1088/1367-2630/ad5d84
権利
権利情報Resource https://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/
権利情報 (C) Authors
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Ver.1 2025-02-12 06:40:36.704894
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